Kağıt MIT Katlama Test Cihazı 180 Derece Katlama Test Cihazı Kağıt tahtası MIT Katlama Test Makinesi

Kağıt MIT Katlama Test Cihazı

Ürün kullanımına genel bakış
Bu makine, esas olarak devre kartlarının (yaygın olarak FPC esnek devre kartları olarak bilinir), kağıt ürünlerin ve suntaların eğilme ve eğilme ömrü testi için kullanılır.
Test yöntemi, test parçasının iki ucunu makineye sabitlemektir, alt kıskaç gerekli yükü uygular, böylece test parçası belirli bir gerilime maruz kalır ve alt kıskaç test parçasının dikey durumundadır. .
Numune, sol ve sağ taraflara ileri geri bükülür ve test parçası kırılana ve otomatik olarak sayılıncaya kadar bükme açısı ayarlanır.

Tasarım kriterleri

ASTM-D2176,TAPPI-T423PM, JIS-P8115

teknik parametreler
Katlanır aynanın eksantrikliğinin neden olduğu gerilim değişikliği 0.343N'den fazla değildir.
Katlanır kafa genişliği 19 ± 1 mm'dir
Katlama yarıçapı 0,38 ± 0,02 mm (cam elyaf malzeme ve diğer malzemeler özelleştirilebilir R açısı)
Katlama portu boşluk mesafesi: 0.25mm / 0.5mm / 0.75mm / 1.00mm (cam elyaf malzeme ve diğer malzemeler özelleştirilebilir ayna)
İnsan-makine arayüzü: Katlama değişikliklerinin sayısını gerçek zamanlı olarak gösteren 3.2 inç 320 * 240 nokta matrisli sıvı kristal ekran.

Kağıt MIT Katlama Test Makinası.pdf